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晶振測試

對(duì)于晶振的檢測,通常僅能用示波器(需要通過電路板給予加電)或頻率計(jì)實(shí)現(xiàn)。萬用表或其它測試儀等是無法測量的。如果沒有條件或沒有辦法判斷其好壞時(shí),那只能采用代換法了,這也是行之有效的。晶振常見的故障有:(a)內(nèi)部漏電;(b)內(nèi)部開路;(c)變質(zhì)頻偏;(d)與其相連的外圍電容漏電。從這些故障看,使用萬用表的高阻檔和測試儀的VI曲線功能應(yīng)能檢查出(C),(D)項(xiàng)的故障,但這將取決于它的損壞程度。


點(diǎn)擊次數(shù):  發(fā)布日期:2013-07-05  【打印此頁】  【關(guān)閉
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